C10.15.4deforming mechanisms wear and drift设计研究
形变界面的机械部件在长期使用中比纯电子显示更容易磨损失准
别名: 销钉磨损 · actuator drift · 形变失准 · pin calibration
概念解释
像素老化主要是亮度均匀性；销、膜、泵、阀还会把高度零点、行程和密封慢慢带走。形变机构比纯电子显示更容易磨损失准，说的是校准和寿命要按机械件来做，不能按一块屏的 MTBF 去套。断电后形状还在不在是另一层；这里是通电工作时，单元与单元之间的高度一致性如何在循环里散掉。
机制
每根销的导轨、每张膜的折痕、每个阀的密封都有磨损面。循环把间隙撑大，零点爬移，同样的指令高度变成一块倾斜的田。碎屑进缝会卡死个别单元，阵列上出现「死像素」，但不能像屏那样点一下校准软件就亮回来——卡死是机械事件。气动泄漏让保持高度掉，要靠持续补气，功耗和噪声都涨。人读几何靠的是相对高度，个别销偏了，脊会弯、平面会鼓。电子显示的坏点通常是视觉噪声；形变的坏点是手会绊到的坑。
怎么研究
按目标寿命做循环升降，中途抽测平面度和单销行程，注入灰尘和侧向按压。
自变量：循环数、载荷（只显示 / 还有手按）、污染、是否中途校准。 因变量：高度标准差、卡死单元数、保持高度的泄漏、人能否仍读出目标形状。
新阵列的演示平面度不是规格。要在寿命中段和末端测「还能否完成找脊、读硬度」。校准若需要拆机，现场就等于不能校。
边界
展览里一天升降几次、不许摸，磨损曲线接近电子。教学和训练设备一天被按成千上万次，磨损是主成本。液体或粉末环境会把缝的问题提前到寿命初期。个别应用可以接受「坏了就整板换」，消费桌面不行。纯气囊一块膜，失准模式是整面变软或一侧鼓，和销钉的「散点坏」不同，维护策略不能共用。
怎么落地
- 把平面度、卡死率、泄漏写进和循环数绑定的规格，不要只写新件指标。
- 能现场校准的留校准；要拆机的，按不可校准来设计余量和更换。
- 手会按的阵列，寿命按带载荷循环来报。
- 验证：寿命中段做一次找脊/读硬度，对照新件。高度标准差大到形状任务失败，就定更换点。故意卡死若干单元，看内容是否还能降级。灰尘箱后再测。